Что такое электронная микроскопия? 

Электронная микроскопия (ЭМ) — это метод получения изображений высокого разрешения биологических и небиологических образцов. Она используется в биомедицинских исследованиях для изучения детальной структуры тканей, клеток, органелл и макромолекулярных комплексов. Высокое разрешение ЭМ-изображений обусловлено использованием электронов (которые имеют очень короткую длину волны) в качестве источника освещающего излучения. Электронная микроскопия используется в сочетании с различными вспомогательными методами (например, тонким срезом, иммуномечением, негативным окрашиванием) для получения ответов на конкретные вопросы. ЭМ-изображения дают ключевую информацию о структурных основах функционирования клеток и их заболеваний.  

Существует два основных типа электронных микроскопов — просвечивающий ЭМ (TEM) и сканирующий ЭМ (SEM). Пропускающий электронный микроскоп используется для просмотра тонких образцов (участков ткани, молекул и т.д.), через которые могут проходить электроны, создавая проекционное изображение. ТЭМ во многом аналогичен обычному (составному) световому микроскопу. ТЭМ используется, в частности, для изображения внутренностей клеток (в тонких срезах), структуры белковых молекул (контрастированных металлическим затенением), организации молекул в вирусах и цитоскелетных филаментах (полученных методом негативного окрашивания), а также расположения белковых молекул в клеточных мембранах (методом сублимационного разрыва).

Обычная сканирующая электронная микроскопия зависит от эмиссии вторичных электронов с поверхности образца. Благодаря большой глубине фокуса сканирующий электронный микроскоп является аналогом светового стереомикроскопа. Он позволяет получать детальные изображения поверхностей клеток и целых организмов, которые невозможно получить с помощью ТЭМ. Он также может использоваться для подсчета и определения размеров частиц, а также для контроля процессов.  Он называется сканирующим электронным микроскопом, поскольку изображение формируется путем сканирования сфокусированного электронного пучка на поверхность образца в виде растровой схемы. Взаимодействие первичного электронного пучка с атомами вблизи поверхности приводит к испусканию частиц в каждой точке растра (например, вторичных электронов низкой энергии, электронов обратного рассеяния высокой энергии, рентгеновских лучей и даже фотонов).  Они могут быть собраны различными детекторами, а их относительное количество переведено в яркость в каждой эквивалентной точке на катодно-лучевой трубке. Поскольку размер растра на образце намного меньше, чем экран ЭЛТ, конечная картинка представляет собой увеличенное изображение образца. Соответствующим образом оборудованные РЭМ (с детекторами вторичного, обратного рассеяния и рентгеновского излучения) могут использоваться для изучения топографии и атомного состава образцов, а также, например, поверхностного распределения иммунометок.